產(chǎn)品詳情
飛行時間二次離子質(zhì)譜儀 PHI nanoTOF 3+
上海伯東代理飛行時間二次離子質(zhì)譜儀 PHI nanoTOF 3+, 表面靈感度高, 提供表面幾個原子層的分子, 元素及其同位素的組成信息. 先進(jìn)的多功能 PHI nanoTOF 3+ 具有更強(qiáng)大的微區(qū)分析能力,更加出色的分析精度.
飛行時間二次離子質(zhì)譜儀 PHI nanoTOF 3+
最新一代 TRIFT 質(zhì)量分析器, 更好的質(zhì)量分辨率
適用于絕緣材料的無人值守自動化多樣品分析
獨特的離子束技術(shù)
平行成像 MS / MS 功能, 助力有機(jī)大分子結(jié)構(gòu)分析
多功能選配附件
PHI nanoTOF 3+?性能指標(biāo)（用Bi3++初次離子源）
低質(zhì)量數(shù)質(zhì)量分辨率：≥ 15,000 m/Δm at m/z =?28Si+?on silicon wafer
絕緣樣品質(zhì)量分辨率： ≥ 15,000 m/Δm at m/z = C7H4O+?on the polymer PET
最小數(shù)斑尺寸：50nm (最小脈沖束斑直徑)
0.5um (在高質(zhì)量分辨率條件下的最小脈沖束斑直徑）
氬團(tuán)簇離子源 (Ar-GCIB) :? 有機(jī)材料深度剖析
使用氬團(tuán)簇離子源 (Ar-GCIB) 能夠有效減少濺射過程中對有機(jī)材料的破壞, 從而在刻蝕過程中保留有機(jī)大分子結(jié)構(gòu)信息.
Cs源和 Ar/O2?源: 無機(jī)材料深度剖析
可根據(jù)測試需求選擇不同的離子源提高二次離子產(chǎn)額, 使用 Cs 源可增強(qiáng)負(fù)離子產(chǎn)額, O2源可增強(qiáng)正離子產(chǎn)額
飛行時間二次離子質(zhì)譜儀 PHI nanoTOF 3+ 應(yīng)用場景
上海伯東 PHI nanoTOF3+ 能夠提供高質(zhì)量分辨和高空間分辨的 TOF-SIMS 分析: 在高質(zhì)量分辨模式下, 其空間分辨率優(yōu)于 500 nm
在高空間分辨模式下, 其空間分辨模式優(yōu)于50 nm. 通過結(jié)合高強(qiáng)度離子源, 高精度脈沖組件和高分辨率質(zhì)量分析器, 可以實現(xiàn)低噪聲, 高靈敏度和高質(zhì)量分辨率的測量; 在這兩種模式下, 只需幾分鐘的測試時間,均可完成采譜分析.
什么是飛行時間二次離子質(zhì)譜儀 TOF- SIMS
TOF-SIMS(Time of flight Secondary lon Mass Spectrometry) 是利用脈沖離子?xùn)|轟擊樣品表面產(chǎn)生二次離子, 經(jīng)飛行時間分析器分析二次離子到達(dá)探測器的時間, 從而獲得樣品表面成份信息的分析技術(shù). 其表面靈感度高, 提供表面幾個原子層的分子, 元素及其同位素的組成信息, 運用于所有元素和同位素,?包括氫元素.
若您需要進(jìn)一步的了解?飛行時間二次離子質(zhì)譜儀 詳細(xì)信息或討論,
請聯(lián)絡(luò)上海伯東: 葉女士?13918837267 ( 微信同號 )?
