德國(guó)JPK發(fā)布全球第一款商用光鑷-原子力顯微鏡聯(lián)用儀

　　基于多年在納米生命科學(xué)全球領(lǐng)先的光鑷和原子力顯微鏡應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)，德國(guó)JPK公司首次將這兩種技術(shù)搭建在同一個(gè)倒置光學(xué)顯微鏡上面，推出全球第一款商用光鑷-原子力顯微鏡聯(lián)用儀OT-AFM。OT-AFM不僅具有AFM的表面成像與測(cè)力功能，還具有光鑷系統(tǒng)最高靈敏度的三維測(cè)力性能。

　　集光鑷三維高精度力學(xué)測(cè)量與操控和AFM高分辨率成像于一身的這套系統(tǒng)將開啟一個(gè)全新的應(yīng)用領(lǐng)域。這套聯(lián)用系統(tǒng)不僅能滿足最嚴(yán)格的機(jī)械穩(wěn)定性的要求，還有非常高的靈敏性，模塊化的設(shè)計(jì)。獨(dú)特設(shè)計(jì)的聯(lián)用平臺(tái)是能將JPK光鑷與AFM與細(xì)胞力譜儀集成于研究級(jí)倒置顯微鏡的關(guān)鍵所在。JPK在硬件和軟件上具有非常成熟的與高端先進(jìn)光學(xué)（如TIRF,

　　Confocal，STED等）聯(lián)用技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，我們可以很簡(jiǎn)單地將先進(jìn)光學(xué)數(shù)據(jù)與光鑷和AFM數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)起來(lái)。在動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)中，JPK

　　AFM與光學(xué)數(shù)據(jù)同步采集而不相互干擾，因此這套聯(lián)用系統(tǒng)能在力學(xué)測(cè)量中提供更多維度的操作空間。

　　這套聯(lián)用系統(tǒng)OT-AFM可以應(yīng)用于許多新的研究領(lǐng)域，包括：細(xì)胞內(nèi)相互作用；細(xì)胞與細(xì)胞或細(xì)胞與基質(zhì)相互作用；免疫反應(yīng)；細(xì)菌\病毒感染和納米顆粒的攝取過(guò)程等。JPK賴以成名的光鑷和AFM技術(shù)，加上與熒光技術(shù)的聯(lián)用，創(chuàng)立了活細(xì)胞研究領(lǐng)域的最高標(biāo)準(zhǔn)。

　　JPK公司首席技術(shù)官（CTO）Torsten

　　Jahnke博士這樣描述這個(gè)令人振奮的突破：“功能化顆?；蛐揎椀奈⑸镉|發(fā)細(xì)胞反應(yīng)是常見的方法?；贏FM的方法也可以觀察細(xì)胞的結(jié)構(gòu)、動(dòng)力學(xué)、機(jī)械性能的變化，但是將目標(biāo)物運(yùn)輸?shù)郊?xì)胞特點(diǎn)區(qū)域還是非常難以實(shí)現(xiàn)的。光鑷能在時(shí)間和空間上精準(zhǔn)地操控細(xì)胞或觸發(fā)細(xì)胞反應(yīng)，從而能顯著地提高這些研究的產(chǎn)出效率、重復(fù)性和靈活性。我們獨(dú)特的OT-AFM系統(tǒng)已經(jīng)應(yīng)用于定量研究樹突狀細(xì)胞（DCs）與貝有調(diào)控性的T細(xì)胞（Treg）之間信號(hào)傳導(dǎo)對(duì)一般性T細(xì)胞（Tconv）黏附于同一樹突狀細(xì)胞性能的影響。”

　　關(guān)于JPK公司

　　JPK 在1999

　　年成立于德國(guó)柏林，是一家全球領(lǐng)先的高科技納米分析儀器跨國(guó)企業(yè)，其產(chǎn)品包括享譽(yù)全球的高分辨快速原子力顯微鏡、全自動(dòng)力譜儀、測(cè)力型光鑷、細(xì)胞力譜儀等高水平、高精度分析儀器，廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、高分子、納米材料等高科技研究領(lǐng)域。JPK于2014年在中國(guó)成立“杰評(píng)科精密儀器貿(mào)易（上海）有限公司”，并設(shè)立有分析實(shí)驗(yàn)室、耗材備件倉(cāng)庫(kù)以及售后服務(wù)中心，為廣大中國(guó)用戶提供高效完美的測(cè)試解決方案，迅捷專業(yè)的售后服務(wù)和全方位的技術(shù)支持。