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NI和泰克聯(lián)合舉辦\設(shè)計、驗證及測試\巡回研討會
NI和泰克聯(lián)合舉辦\設(shè)計、驗證及測試\巡回研討會
作者:佚名  來源:不詳  錄入:Admin  更新時間：2008-8-18 9:36:18  點擊數(shù)：7
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美國國家儀器中國有限公司（National Instruments）和泰克電子中國有限公司（Tektronix）聯(lián)合推出一系列巡回技術(shù)研討會-- "2004設(shè)計、驗證及測試論壇（Design, Validation, Test Forum, 簡稱DVTF 2004）"。研討會將于2004年7、8兩月在深圳、上海、臺北、南京、新竹、成都、高雄、西安和北京等地相繼舉行,會議期間將展示NI LabVIEW圖形化開發(fā)軟件在泰克的示波器上運行的效果和相關(guān)的演示實例。具體信息請聯(lián)系公司,或訪問www.ni.com或www.tektronix.com
。

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