產(chǎn)品詳情
產(chǎn)品綜述：
AV6418光時(shí)域反射計(jì)是針對(duì)FTTx網(wǎng)絡(luò)而設(shè)計(jì)的一款高性能多功能測(cè)試儀器。該產(chǎn)品主要用于測(cè)量光纖光纜的長(zhǎng)度、傳輸損耗、接頭損耗等光纖物理特性，并能對(duì)光纖線路中的事件點(diǎn)、故障點(diǎn)準(zhǔn)確定位。廣泛應(yīng)用于光纖通信系統(tǒng)的工程施工、維護(hù)測(cè)試及緊急搶修；光纖光纜的研制與生產(chǎn)測(cè)試等。
AV6418外觀結(jié)構(gòu)采用業(yè)界最為先進(jìn)的雙色雙料一體化模具設(shè)計(jì)工藝，外觀新穎亮麗、堅(jiān)固耐用，采用觸摸和按鍵雙重操作方式，操作非常方便；內(nèi)置高級(jí)防反射的LCD顯示單元，即便野外環(huán)境下，操作界面也清晰可見；整機(jī)具有4路光接口，可同時(shí)實(shí)現(xiàn)光功率計(jì)、VFL、單模及多模測(cè)試功能，接口類型可隨意更換，便于清潔光纖端面。該產(chǎn)品具有豐富的外部接口，既可通過(guò)以太網(wǎng)接口實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制，也可通過(guò)兩種不同的USB接口，實(shí)現(xiàn)外接U盤、打印機(jī)及與PC機(jī)數(shù)據(jù)通信。測(cè)試結(jié)果既可保存在機(jī)內(nèi)，也可通過(guò)SD接口保存在SD卡中。機(jī)內(nèi)配備有大容量的鋰電池，工作時(shí)間長(zhǎng)達(dá)8小時(shí)以上，適于長(zhǎng)時(shí)間野外作業(yè)。
主要特點(diǎn)：
n ≤1m超短事件盲區(qū)，測(cè)試光纖跳線輕松自如；
n 45dB大動(dòng)態(tài)范圍，128k數(shù)據(jù)采樣點(diǎn)；
n 業(yè)界最先進(jìn)的雙色雙料一體化模具工藝，堅(jiān)固耐用；
n 高級(jí)防反射LCD，野外環(huán)境下顯示界面清晰可見；
n 具有多種測(cè)試模式、觸摸屏及快捷健操作；
n 通信光自動(dòng)監(jiān)測(cè)功能；
n 具有以太網(wǎng)遠(yuǎn)程控制功能；
n 雙USB接口功能，可外接U盤、打印機(jī)及通過(guò)SyncActive軟件與PC機(jī)通信；
n 支持Bellcore GR196及SR-4731文件格式；
n 電池低電壓告警功能；
n WinCE視窗操作系統(tǒng)，中英文操作界面；
n 內(nèi)置可視紅光故障定位（VFL）及光功率計(jì)功能；
n OTDR光輸出頭類型可隨意更換，端面清潔更加方便；
n 內(nèi)置極具人性化的多媒體教學(xué)軟件，快速成為測(cè)試專家！
n 應(yīng)用軟件在線升級(jí)，無(wú)需返回原廠。
AV6418高性能光時(shí)域反射計(jì)具有手動(dòng)測(cè)試（實(shí)時(shí)測(cè)試、平均測(cè)試）、自動(dòng)測(cè)試和盲區(qū)測(cè)試3種模式。
手動(dòng)測(cè)試模式：該測(cè)試模式適于那些對(duì)該儀器比較了解的熟練操作者，因此能夠得到更加準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。在手動(dòng)測(cè)試模式中，用戶可根據(jù)測(cè)試需要選擇實(shí)時(shí)測(cè)試模式或平均測(cè)試模式。
實(shí)時(shí)測(cè)試可快速檢測(cè)光纖鏈路的動(dòng)態(tài)變化，應(yīng)用于需要實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)或觀察光纖鏈路的對(duì)接過(guò)程及效果。
平均測(cè)試模式可以盡最大可能地抑制測(cè)試曲線中的噪聲，從而得到更加精確的測(cè)試結(jié)果。在平均測(cè)試模式中，平均次數(shù)越大，則對(duì)噪聲的抑制效果越好，但測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)的延長(zhǎng)，因此，在實(shí)際使用中，可根據(jù)需要靈活設(shè)置平均次數(shù)。
自動(dòng)測(cè)試模式：該模式下，儀器能夠自動(dòng)設(shè)置最佳測(cè)試條件，并給出測(cè)試結(jié)果，無(wú)需操作者了解復(fù)雜的背景知識(shí)和有關(guān)儀器操作的細(xì)節(jié)。為了提高自動(dòng)測(cè)試的精度，可以適當(dāng)加大自動(dòng)測(cè)試時(shí)的平均次數(shù)，但將延長(zhǎng)自動(dòng)測(cè)試的時(shí)間。
盲區(qū)測(cè)試模式：該模式適用于對(duì)超短距離光纖的測(cè)試，如測(cè)試光纖跳線的長(zhǎng)度等，在該模式下，如希望儀器獲得最好的測(cè)試結(jié)果，要求被測(cè)光纖末端的反射損耗（或稱回波損耗）
大于40dB。
