超聲相控陣探頭支持哪些掃描模式？

  超聲相控陣探頭因其靈活的波束控制能力和高分辨率成像技術(shù)，廣泛應(yīng)用于工業(yè)無(wú)損檢測(cè)、醫(yī)學(xué)診斷等多個(gè)領(lǐng)域。與傳統(tǒng)超聲探頭相比，它能夠?qū)崿F(xiàn)多種掃描模式，從而適應(yīng)不同檢測(cè)對(duì)象和缺陷類型的識(shí)別需求。
  首先，電子線性掃描是最常見(jiàn)的一種掃描模式。在這種模式下，相控陣探頭通過(guò)依次激活不同的晶片組合，沿直線方向逐點(diǎn)發(fā)射和接收超聲波信號(hào)，從而形成對(duì)被檢區(qū)域的連續(xù)覆蓋。該模式適用于焊縫、板材等結(jié)構(gòu)的快速掃查，具有掃描速度快、圖像清晰的特點(diǎn)。
  其次，扇形角度掃描也是相控陣探頭的核心功能之一。通過(guò)調(diào)整各晶片的延遲時(shí)間，可以在不移動(dòng)探頭的情況下，使聲束在一定角度范圍內(nèi)偏轉(zhuǎn)，例如從30°到70°之間變化。這種模式特別適合于復(fù)雜幾何形狀工件的檢測(cè)，如T型焊縫、角接結(jié)構(gòu)等，能有效提升缺陷的檢出率。
  第三種常見(jiàn)的掃描模式是聚焦深度掃描。該模式利用相控陣技術(shù)對(duì)聲束進(jìn)行動(dòng)態(tài)聚焦，在不同深度上獲得更高的分辨率和靈敏度。適用于檢測(cè)微小缺陷或要求高精度定位的場(chǎng)合，如航空航天材料、復(fù)合材料內(nèi)部缺陷的識(shí)別。
  此外，還有一種結(jié)合了角度與深度控制的綜合掃描方式，稱為全矩陣數(shù)據(jù)采集（TFM/FMC）模式。該模式通過(guò)對(duì)所有晶片組合進(jìn)行全通道激發(fā)與接收，再結(jié)合先進(jìn)的信號(hào)處理算法，實(shí)現(xiàn)對(duì)檢測(cè)區(qū)域的全息成像。這種模式雖然數(shù)據(jù)量大、計(jì)算復(fù)雜，但其成像質(zhì)量極高，適用于高精度檢測(cè)需求。
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